Сканирующая туннельная микроскопия презентация
Сканирующая туннельная микроскопия (обзор). Приборы и техника эксперимента (ПТЭ), 1989, 5, стр где характерная работа выхода ~5 эВ, m » г – масса электрона проводимости. Туннельная проводимость экспоненциально уменьшается с увеличением расстояния между поверхностями. В вакууме проводимость уменьшается примерно в 10 раз при увеличении расстояния 16 СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ а) – притяжение двух атомов благодаря силам Ван-дер-Ваальса, б) – притяжение зонда к поверхности за счет капиллярных сил. Тема 2. Сканирующая туннельная микроскопия 2. 2.1. Основы метода сканирующей туннельной микроскопии Исторически первым в семействе зондовых. Сканирующая туннельная спектроскопия (СТС) является наряду с измерениями топографии другой важной областью приложения СТМ. В первом приближении образ, составленный из значений тока. Сканирующая туннельная микроскопия Исследование электронных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. Принцип работы. В СТМ острая металлическая игла подводится к образцу на расстояние нескольких ангстрем (0.1 нм).При подаче на иглу относительно образца небольшого потенциала возникает туннельный ток. Сканирующая туннельная микроскопия. Тема 2. Методы сканирующей зондовой микроскопии Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро-. Сканирующая туннельная микроскопия может быть применена для исследования поверхностей проводников и тонких пленок (или небольших объектов), нанесенных на поверхность проводника. Термин сканирующая туннельная микроскопия Термин на английском scanning tunneling microscopy Синонимы Аббревиатуры СТМ, STM Связанные термины атомно силовая микроскопия, манипуляция атомами.